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热点关注|重庆理工大学获2项国际发明专利授权

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发表于 2017-9-4 10:31:50 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式
近日,重庆理工大学机械检测技术与装备教育部工程研究中心刘小康、彭东林教授研究团队通过PCT(Patent Cooperation Treaty)途径申请的2项国际发明专利率先在日本获得授权,实现了该校国际PCT发明专利授权零的突破。


     2项获得授权的国际发明专利分别为“Electric field type time-grating angular displacement sensor”(PCT/CN2014/083215)、“Electric field type time-grating linear displacement sensors based on single row multilayer structure”(PCT/CN2014/083125)。该2项专利通过采用双正弦形状的传感“栅面”而不是传统细密的“栅线”来获取位移信号,利用时间尺度提高空间尺度的测量精度和分辨力,测量性能的提高不依赖于机械制造的“精”和“密”;通过微米亚微米级精度制造实现纳米级精度测量,摆脱制造装备和工艺水平对大量程纳米测量技术的制约,突破了目前纳米测量技术领域普遍存在的“测量范围与精度的矛盾”“精度提高导致的误差溯源”和“克服衍射极限改善空间分辨力”三个基础性共性难题。专利的新颖性、创造性和工业实用性得到了国际检索单位的充分肯定,同时也为实现传感器的产业化和产品国际化奠定了良好的基础。


长期以来,刘小康教授和彭东林教授的研究团队潜心研究,开展了大量的创新性研究工作,前期主研的原创性时栅成果曾获得国家技术发明二等奖、中国专利金奖及重庆市技术发明一等奖等多项科技大奖。

编辑:马姝|审核:杨锐
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